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IC連接器

在示波器上進行快速、精確、完整的波形測量

發布日期:2022-10-09 點擊率:325

與大多數測試工具相同,現代數字存儲示波器 (DSO) 一直在不斷演進,以滿足設計人員和測試工程師的需求,在性能、特性和實用性之間達到平衡。但是,它的三種基本特性——格線、光標、自動測量參數卻始終保持不變,因為對于面臨著持續增加的產品上市速度壓力的設計人員而言,在正確運用的情況下,這些特性具有極其重要的價值。

本文將介紹如何正確使用和運用現代 DSO 的這些基本特性,并提供測量參數的實用定義以供參考。

現代 DSO 的三種必不可少的工具

示波器是一種電壓響應測量儀器,包括三種基本測量工具。隨著儀器的發展,這些工具也在持續演進。最早的工具是儀器顯示屏上的顯示格線或柵格。在示波器發展過程中引入的第二種工具是光標或標記。最后增加的第三種工具是測量參數。這些參數都是隨著數字示波器的推出而增加的。這些工具沒有隨著新技術手段的出現而被取代,足以證明它們的實用性。下面我們將逐一介紹這三種工具,幫助您了解使用它們的原因,以及如何充分利用它們。

屏幕格線

最原始的測量技術是使用屏幕上的格線和計算格數。這種方法主要用于快速估算振幅和時間測量值。顯示格線或柵格是在示波器上出現的第一種測量工具。波形的測量方法就是記錄波形覆蓋的柵格數量,然后乘以相應的比例系數。在 Teledyne LeCroy HDO 4104A 上,我們采集了波形,顯示了五個周期的正弦波(圖 1),我們可為該波形完成測量。

典型示波器顯示柵格圖片

圖 1:典型示波器顯示柵格。從通道 1 (C1) 的軌跡描述符讀取的垂直比例系數為每格 50 毫伏 (mV),在時基描述符中顯示的水平比例系數為每格 100 ns。(圖片來源:Digi-Key Electronics)

正弦波軌跡在垂直方向上覆蓋六格,乘以每格 50 毫伏 (mV) 的垂直比例系數(見通道 1 描述符方框),即可算出正弦波振幅為 300 mV(峰峰值)。同樣,正弦波的周期覆蓋了兩個水平的柵格,時基描述符方框中的每格為 100 納秒 (ns),因而周期為 200 ns。計算格數的方法似乎有些原始,但它是進行基本測量的非??旖莸姆椒ā4蠖鄶凳静ㄆ饔脩舳寄苓m應使用這種方法,來驗證所要測量波形的基本假設,并保證示波器設置正確。

光標

光標是可由用戶放置的顯示線,具有關聯的振幅和時間讀數。光標放置在軌跡上所要測量的點上。光標讀數顯示振幅、時間以及光標標記線之間的時差(圖 2)。

軌跡和顯示光標讀數字段的 X-Y 光標圖片

圖 2:軌跡和顯示光標讀數字段(包括振幅和時間位置)的 X-Y 光標(圖片來源:Digi-Key Electronics)

可用的光標類型包括水平線、垂直線以及水平加垂直線。圖中所示的光標類型為垂直線,包括由垂直光標線和箭頭標記的點的水平和垂直讀數。振幅讀數顯示在每個所示通道的軌跡描述符中。水平讀數位于時基和觸發描述符方格下方。水平讀數顯示相對于觸發點的絕對光標位置、光標之間的時差 (Dt),以及時差的倒數(頻率)。

光標操作延伸到在 X-Y 顯示區域上使用。除了光標正常的振幅和時間讀數之外,用戶還可從 X-Y 顯示區域獲取矢量角度(從向下箭頭到向上箭頭的角度)和振幅(從向上箭頭到向下箭頭的半徑)的讀數。這些矢量讀數顯示在 X-Y 顯示區域下方。X-Y 顯示區域上的相對光標可以讀取矢量差,包括誤差矢量振幅 (EVM) 和相位角。

X-Y 光標的實用特性是:X-Y 顯示區域上的光標位置在 X-T 和 Y-T 分量上跟蹤。因此,X-Y 顯示區域上的任何異常都可以即時追蹤到分量軌跡上的確切點。

測量參數

測量波形的最精確方法是使用示波器提供的自動測量參數(圖 3)。

Teledyne LeCroy HDO 4104A 示波器的測量參數圖片

圖 3:顯示最多八個參數讀數的 Teledyne LeCroy HDO 4104A 示波器測量參數,包括統計數據和“直方圖”。(圖片來源:Digi-Key Electronics)

Teledyne LeCroy 4104A 和 WaveSurfer 510 示波器提供 30 多個基本測量值,一次最多可分別顯示八個或六個參數。WaveSurfer 3024 有 24 個標準測量值,一次最多顯示六個參數。在特定分析選項中,還提供額外的參數。

該示波器針對顯示波形的每個周期,對時序參數進行測量。這種功能稱為“全實例”測量。振幅參數累加每次采集的單個值。測量表可以顯示每個測量參數的最新值,或者通過參數統計,顯示所有測量的歷史記錄。上圖顯示參數統計處于打開狀態??捎脜到y計包括平均值、最小值、最大值和標準差。另外還顯示參數統計包括的總采集(掃描)次數。它為統計檢驗奠定了基礎。

還可以打開直方圖,以顯示每個參數的測量值的分布。統計和直方圖有助于我們了解參數值在多次測量中的變化。

趨勢函數可讓我們進一步了解測量值的變化。趨勢函數可按照測量的順序,繪制測量參數值圖。垂直軸單位與測量單位相匹配,水平值是測量順序編號(圖 4)。

調頻正弦波的瞬時頻率趨勢圖圖片

圖 4:調頻正弦波的瞬時頻率趨勢圖示例。每個周期都測量頻率,數學軌跡 F1 中值的繪制順序按照測量順序。(圖片來源:Digi-Key Electronics)

采集的信號為調頻正弦波;信號頻率逐周期測量,并在數學軌跡 F1 中繪制為趨勢圖。趨勢圖的垂直軸以赫茲 (Hz) 為單位,而水平軸則為測量順序編號。趨勢圖可能有 20 至 1,000,000 個點,級數為 1-2-5。這些趨勢圖與源軌跡同步,但必須繪制相同的點數。

狀態圖標,例如統計表下方的綠色勾選標記,指示參數計算的狀態,包括錯誤條件。如果沒有足夠的可用數據,則讀數為空白。

這些測量可以設定門限,這樣只有在用戶定義的測量門限之內的數據才包括在測量中。這種功能在很多應用中是非常有用的,例如在地址和數據信號波形共享相同的信號路徑的情況下,對數據總線進行分析??梢栽O定測量門限,使得測量只針對所需的模式進行。

脈沖測量基于 IEEE 181 標準。該標準規定,脈沖測量必須應用統計分析,以最大程度減少噪聲對脈沖波形測量的影響(圖 5)。

IEEE 181 標準脈沖測量直方圖示例圖片

圖 5:IEEE 181 標準脈沖測量直方圖示例。脈沖直方圖將顯示兩個峰值。這些峰值的平均值決定了脈沖的電壓峰值和谷值,從而最大程度地減少噪聲的影響。(圖片來源:Teledyne LeCroy)。

IEEE 標準規定應繪制波形樣本直方圖。脈沖直方圖將有兩個峰值。較高峰值的平均值為脈沖頂部,較低峰值的平均值為脈沖底部。使用這些平均值可以消除噪聲對確定脈沖振幅的影響。因此,周期、寬度、過沖、上升時間和下降時間都可以得到更加精確的計算。

如果直方圖無法顯示兩個不同的峰值,則示波器將通過狀態圖標來指示波形不是脈沖,振幅測量的依據是最大值減去最小值或峰峰值。

其他專門測量基于類似的行業測量標準。

下面還有一個有用的表格,列出了 Teledyne LeCroy HDO 系列示波器的標準參數。該表格對測量參數提供了很好的定義,具有很大的參考價值:

Amplitude/振幅
雙峰信號的峰值和谷值之間的差,如果不是雙峰信號,則為最大值 - 最小值
Area/面積
波形下方的面積
base/基底
雙峰波形中較低最可能狀態的值
Delay/延時
觸發與 50% 振幅處第一邊沿之間的時間
Δ period@level
波形中每個周期的相鄰周期偏差(周期之間的周期抖動)
Δ time@level
兩個波形之間的可選電平之間的時間
Duty cycle/占空比
寬度占周期的百分比
Duty@level
選定電平處的占空比抖動
Edges@level
波形中的邊沿數
Fall time/下降時間
下降沿從 90% 到 10% 的持續時間
Fall 80 - 20%
下降沿從 80% 到 20% 的持續時間
Frequency/頻率
信號中 50% 電平處的每個周期的頻率
Freq@level
波形中每個周期的特定電平和斜率處的頻率
Maximum/最大值
測量波形的最高點
Mean/平均值
輸入信號中的所有數據值的平均值
Minimum/最小值
測量波形的最低點
Overshoot?/負過沖
下降沿之后的過沖量,以振幅的百分比表示
Overshoot+/正過沖
上升沿之后的過沖量,以振幅的百分比表示
Peak to peak/峰峰值
波形中最高點和最低點之間的差
Period/周期
所測量周期性信號的周期,以 50% 電平之間的時間表示
Period@level
波形中每個周期的特定電平和斜率的周期
Phase/相位
兩個選定信號之間的相位差
Rise/上升
上升沿從 10% 到 90% 的持續時間
Rise 20 - 80%
上升沿從 20% 到 80% 的持續時間
RMS
數據的均方根值
Skew/偏移
clock1 邊沿的時間減去最近的 clock2 邊沿的時間
Standard deviation/標準差
光標之間數據的標準差
Time@level
在指定電平下從觸發到邊沿的時間
Top/基頂
兩種最可能狀態中的較高者,較低者為基底
Width +/正脈寬
50% 交叉處的正脈沖寬度
Width -/負脈寬
50% 交叉處的負脈沖寬度

這些測量參數都有清晰的定義,并且自動執行,精度高于其他測量技術可能達到的精度。

總結

示波器上的自動測量參數提供最精確的測量,而光標則提供更高的測量靈活性。例如,使用光標可以非常簡單地測量脈沖群的持續時間,但需要定制參數。同樣,使用格線的柵格估算是進行基本測量的最快捷方法,非常適合用于快速驗證測試設置。

慶幸的是,現代數字示波器制造商成功保持了所有這三個方面的優勢,可以幫助設計人員縮短所需的測試時間

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